Congrès International de Métrologie

Le CIM (Congrès International de Métrologie) est un événement à la croisée des chemins entre applications industrielles et R&D pour tout public et tout secteur : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés, fabricants et prestataires. 

Il permet : 

• d’améliorer ses processus de mesure, d’analyses et d’essais et mieux maîtriser leurs risques, 
• de suivre les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications industrielles. 

L'édition 2017 du Congrès International de Métrologie aura lieu du 19 au 21 septembre 2017 à Paris-Porte de Versailles avec le Salon ENOVA autour du thème "Mesurer au quotidien et inventer le futur". 

>> Le programme complet et l’inscription en ligne sont accessibles sur le site www.cim2017.com