Pour son 30° anniversaire, le Congrès International de Métrologie confirme sa bonne santé …

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Lundi 23 décembre 2013

Le Congrès s’est tenu à la Porte de Versailles à Paris du 7 au 10 octobre dernier, conjointement avec le salon Enova.
Avec la maturité liée aux trente premières années, les organisateurs s’appuient sur 3 grands axes pendant la préparation de cet événement :

  • une ouverture constante sur toutes les sensibilités, tous les pays et tous les secteurs d’activité,
  • le souci de la nouveauté et de la compétence technique et technologique,
  • la volonté acharnée de favoriser les rencontres entre des mondes différents : le fameux transfert …

Ainsi le Congrès 2013 a proposé pendant 3 jours et demi un large choix : 180 conférences techniques, 6 tables rondes industrielles, 3 visites en entreprise et une exposition liée au salon Enova, dans la partie Mesurexpovision.
Mais l’objectif est aussi de suivre les évolutions de tous et de répondre aux attentes d’un maximum de participants : le monde change et personne ne travaille aujourd’hui comme il y a 5 ans.
Quelques grandes nouveautés ont de ce fait été affichées pendant cette édition :

  • une session sur l’intérêt des métiers liés à la mesure en ouverture du Congrès,
  • 2 programmes européens de recherche en métrologie sont venus présentés l’avancement de leur travaux,
  • des sujets sur l’agro-alimentaire, les défis énergétiques et les nanotechnologies.

Avec ce mélange de thèmes classiques et de nouveautés, les volumes enregistrés pour ce congrès sont exceptionnels et place cette manifestation au premier rang mondial :

  • 850 participants et exposants, avec accès complet à tout le Congrès, sont venus, soit 6% de plus que pour l’édition 2011,
  • 36 pays différents étaient représentés, et 35% des participants sont issus de l’étranger, européens principalement mais aussi Amérique du Nord et Amérique du Sud, Afrique, Moyen-Orient, Asie,
  • 53 sociétés étaient installées sur le Village Métrologie situé au sein du Salon : le lieu de rassemblement des moments de convivialité du Congrès : pauses, posters, cocktail et apéritif, …
  • le niveau scientifique et technique du Congrès est jugé excellent ou satisfaisant pour 87 et 90% des participants,
  • l’intérêt industriel ressort comme excellent ou satisfaisant dans 83% des sondages,
  • la soirée de gala à la Tour Eiffel a rassemblé près de 200 congressistes et partenaires de tous les horizons,
  • en complément, 5 900 personnes ont visité le salon Enova dédié aux sujets électronique, mesure, optique et radio fréquence. Ce visitorat est en hausse par rapport à l’édition précédente et les organisateurs notent le retour à un « climat d’affaires positif ».

Le Congrès confirme aussi qu’il rassemble tous les publics et acteurs du secteur de la mesure :

  • 68% sont des industriels : utilisateurs de moyens de mesure dans tout type de secteur, laboratoires d’analyses, laboratoires de métrologie ou fabricants de matériels, …
  • 11% sont issus des grands organismes nationaux et internationaux : laboratoire national des grands pays européens, Ministères, organisme d’accréditation, organisations internationales, …
  • 13% des universitaires ou des chercheurs,
  • 8% des participants sont d’origines diverses : hôpitaux, organisme de formation, consultant, presse, ..

Le Collège Français de Métrologie, porteur de l’événement, souhaite remercier chaleureusement tous ceux qui étaient présents et l’ensemble des partenaires du Congrès :

  • les membres du Comité d’Organisation : Acac, BEA Métrologie, BIPM, Cetiat, EDF, Hexagon Metrology, IMQ, INSA de Lyon, LNE, Metas, NIST, NPL, Novartis, OIML, Peugeot Citroën Automobiles, Trescal,
  • les sponsors et partenaires : A+ Métrologie-Apave, Carl Zeiss, Hexagon Metrology, et Implex,
  • les soutiens institutionnels : Ministère du Redressement Productif et DGCIS, Ministère de la Culture.

Information presse : 04.67.06.20.36 - info@cfmetrologie.com - www.metrologie2013.com

 

Source : communiqué de presse du CFM - octobre 2013