Congrès International de Métrologie 2015
Le CIM 2015 rassemblera, du 21 au 24 septembre à Paris, tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs de moyens de mesure, experts, laboratoires, fabricants et prestataires.
Il présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et les applications industrielles.
Il montre également comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.
Les thématiques phares de 2015 : Maîtrise des risques, Transition énergétique et Santé sont illustrés pendant la manifestation qui couvre également tous les secteurs : analyses et essais, incertitudes, optimisation des coûts, nanotechnologies, métrologie sensorielle …
Le CIM 2015 est organisé conjointement avec ENOVA Paris, le salon de référence des technologies Electronique, Mesure, Vision et Optique.
Programme et informations sur le site www.metrologie2015.com
Information presse :
04.67.06.20.36 -
- www.metrologie2015.com
